三维霍尔效应探针测试台(晶圆霍尔效应测试系统)

三维霍尔效应探针测试台(晶圆霍尔效应测试系统)用于晶圆、器件等材料的霍尔效应测试,以测量电阻率和载流子浓度、迁移率等物理参数。
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功能特点

三维磁场:面内场X+Y方向,磁场强度500Gs;垂直场Z方向,磁场强度2000Gs;各方向磁场可独立程序控制;

三轴压电陶瓷位移台:纳米级分辨率,内置高精度光学位置传感器,闭环控制,高性能驱动力,先进运动控制算法;

测试软件:适配Keithley2450Keithley6510等测试仪表;导入测试点坐标,可实现自动扎针测试,自动生成测试结果;

 

应用领域

自旋电子学材料/器件;磁性材料/器件/传感器测试;

晶圆/样片/分立器件/晶体管/纳米器件/功率器件测试;

封装器件/PCB 板测试;LED/PD/LD 光电材料/器件的测试、可靠性分析或失效分析;

30 微米以上电极/PAD 测试;

I/VC/VC/F、射频S参数、有源测试、耐压测试、ESD 测试、混合参数测试等;


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晶圆霍尔效应测试系统
晶圆霍尔效应探针台

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