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快速退火炉系列
低温恒温器系列
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教学设备方案
桌面式1吋快速退火炉(RTP-3-01系列)
桌面式1吋快速退火炉(RTP-3-01系列)
快速退火炉RTP-3-01系列采用红外辐射加热技术，可实现1吋(选配2吋)样品快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氮化(RTN)、快速热氧化(RTO)及金属合金化等研究和生产起到重要作用。
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桌面式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
桌面式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
快速退火炉RTP-3-04系列采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品（4英寸样品）快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等研究和生产工作起到重要作用。
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自立式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
自立式4吋快速退火炉(RTP-3-04系列)
快速退火炉RTP-3-04系列采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品（4英寸样品）快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等研究和生产工作起到重要作用。
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自立式6吋快速退火炉(RTP-3-06系列)
自立式6吋快速退火炉(RTP-3-06系列)
RTP-3-06系列自立式6吋快速退火炉采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品(6英寸)快速升温和降温，可用于快速热处理(RTP)、快速热退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等半导体工艺。
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霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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霍尔效应测试系统(HET-3HT)
霍尔效应测试系统(HET-3HT)
霍尔效应测试系统HET-3依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号：ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪PTM-5可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数和电导率，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。
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便携式热电参数测试仪(PTM-3)
便携式热电参数测试仪(PTM-3)
便携式泽贝克系数测试仪 PTM-3 是一款测试热电材料Seebeck系数（常温）的专业仪器。该仪器可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。
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相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪(PCA-3)
PCA采用具有专利技术（专利号：ZL201810767563.1）的光学系统检测原理，配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件。PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。不仅能创新性解决二维薄膜材料的热学性能分析，同时还能使用与三维块体材料的热性能分析，是一款具有多功能的科技创新产品。
PCA是无损检测，不破坏样品，节约成本。
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关于我们

ABOUT US

 　　武汉嘉仪通科技有限公司成立于2009年，是以薄膜物性测量仪器作为战略定位，技术自主创新的国家高新技术企业。公司集快速退火炉，霍尔效应测试，RTP，RTA，RTO，热电参数测试，Seebeck系数测试，电导率测试，热导率测试，相变温度分析，液氮低温恒温器等物性检测仪器和半导体工艺设备的···

案例展示

PRODUCT CATEGORY

材料热分析、材料样品制备与加工、材料电磁分析、材料力学分析、材料光学分析

1吋快速退火炉RTP-3S01

1吋快速退火炉RTP-3S01

江苏大学1吋快速退火炉RTP-3S01升温1200℃时软件录屏 

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4吋快速退火炉RTP-3S04

4吋快速退火炉RTP-3S04

中科院半导体研究所4吋快速退火炉RTP-3S04升温1200℃时软件录屏 

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1吋快速退火炉RTP-3S01

1吋快速退火炉RTP-3S01

清华大学1吋快速退火炉RTP-3S01系列升温曲线图 

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4吋快速退火炉RTP-3S04

4吋快速退火炉RTP-3S04

浙江大学4吋快速退火炉RTP-3S04系列升温曲线图 

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薄膜变温电阻测试仪TRT-3

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大连理工大学在公司测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果  

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霍尔效应测试系统HET-3

霍尔效应测试系统HET-3

山东大学在公司测试钛酸锶样品的电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率数据  &nb···

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薄膜热导测试系统TCT-3

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中科院上海微系统所购买TCT，测试SiO2薄膜样品热导数据  

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薄膜热电参数测试系统MRS-3

薄膜热电参数测试系统MRS-3

中科院化学所购买MRS-3，测试导电高分子薄膜样品Seebeck系数和电阻率数据 &nbs···

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热电参数测试系统Namicro-3

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太原理工购买Namicro-3L，测试MgSi样品Seebeck系数和电阻率数据与ZEM-3数据对比···

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相变温度分析仪PCA-3

相变温度分析仪PCA-3

成都理工购买PCA，测试HfO2薄膜的相变温度 

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嘉仪通科技热导率测试系统入驻广州承压院
一路向前，嘉仪通科技再度携手比亚迪
微尺度国家研究中心顺利验收嘉仪通科技快速退火炉
世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪入驻中国计量院
获得日本芝浦工业大学高度赞许！嘉仪通科技设备再次走出国门
登陆澳洲！嘉仪通科技再次获得海外订单
喜讯！亚德诺半导体技术和嘉仪通科技达成合作
中日友好！嘉仪通科技和日本知名学府——广岛大学初次合作顺利完成
国货荣耀！嘉仪通科技热电参数测试仪PTM进入以色列本·古里安大学
嘉仪通热电参数测试仪进入世界著名学府——英国南安普顿大学

新闻动态

NEWS CENTER

祝贺！嘉仪通MRS-3RT设备荣登《Nature》

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2023-03-08
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嘉仪通科技推出个性化定制服务！国产液氮低温恒温器的新选择

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2022-12-15
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重大产品升级公告！嘉仪通1吋快速退火炉完成华丽蜕变

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2022-12-15
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战略布局！嘉仪通科技再获一项”美国专利“！

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2022-12-15
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国货之光！武汉嘉仪通科技自主研发的6吋快速退火炉进驻知名MEMS传感器企业

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2022-12-15
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就这么简单！一键完成快速退火！嘉仪通科技推出退火炉新选择！

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2022-12-15
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为国产设备的崛起而努力！嘉仪通科技8吋快速退火炉首台下线！

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2022-12-15
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【嘉仪通系列产品专题四】测试霍尔系数的最佳良品—霍尔效应测试系统

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2022-12-15
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