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薄膜热导率测试系统(TCT-3HT)
薄膜热导率测试系统(TCT-3HT)
薄膜热导率测试系统TCT-3HT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率随温度变化的趋势，为广大科研工作者提供稳定可靠的实验依据。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、热阻材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统TCT-3RT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。可验证薄膜材料在室温条件下的热导率性能差异。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术（专利号：ZL201410421128.5），可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪采用具有专利技术的光学系统检测原理，PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。
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霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统（霍尔效应测试仪）HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号：ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3RT)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3RT)
薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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关于我们

ABOUT US

 　　武汉嘉仪通科技有限公司成立于2009年，是以薄膜物性测量仪器作为战略定位，技术自主创新的国家高新技术企业。公司集快速退火炉，霍尔效应测试，RTP，RTA，RTO，热电参数测试，Seebeck系数测试，电导率测试，热导率测试，相变温度分析，液氮低温恒温器等物性检测仪器和半导体工艺设备的···

案例展示

PRODUCT CATEGORY

材料热分析、材料样品制备与加工、材料电磁分析、材料力学分析、材料光学分析

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