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破解变温光学测量与设备兼容性难题:嘉仪通科技冷热台、探针台、液氮低温恒温器

  • 分类: 行业知识
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  • 来源:本站
  • 发布时间:2026-06-04
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【概要描述】摘要嘉仪通科技推出的低温系列产品(冷热台LND、探针台LNP、液氮低温恒温器LNT)有效解决了光学、···

破解变温光学测量与设备兼容性难题:嘉仪通科技冷热台、探针台、液氮低温恒温器

【概要描述】摘要嘉仪通科技推出的低温系列产品(冷热台LND、探针台LNP、液氮低温恒温器LNT)有效解决了光学、···

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摘要

嘉仪通科技推出的低温系列产品(冷热台LND、探针台LNP、液氮低温恒温器LNT)有效解决了光学、光谱及光电测试领域中的三大核心问题:宽温区精确控温、现有常温设备的变温功能改造(如拉曼光谱仪、椭偏仪、XRD、显微镜、荧光分光光度计等),以及低温下视窗除雾、光路保持与特殊样品测试(粉末、液体、动态结冰、光电芯片、高能辐射等)。通过这些产品,用户无需购置全新系统即可实现材料在变温环境下的光学特性表征、光电性能测试及瞬态过程记录,大幅提升研发效率并降低设备升级成本。

宽温区变温光学测试系统科研插画 - 副本.jpg

解决变温光学测量与设备兼容性问题

嘉仪通科技的低温系列产品主要解决了在光学、光谱、显微及光电测试等领域中,实现宽温区(尤其低温)精确控温、兼容现有设备、保证光学测量质量的一系列实际问题。具体归纳如下:

 

一、核心解决的问题

1.变温环境下光学测量的温度控制问题

提供从低温(如-190℃)到高温(如120℃)的稳定可控温度环境,满足拉曼光谱、椭偏仪、XRD、显微镜、荧光分光光度计、光致发光光谱仪等设备在变温条件下的测试需求。

精确控温(含PID控制),保证材料光学特性(折射率、吸收系数、荧光强度、晶体结构等)随温度变化的准确测量。

 

2.现有设备改造与兼容性问题

在用户已有的常温设备(如拉曼光谱仪、椭偏仪、XRD、显微镜、荧光分光光度计等)基础上,通过增加变温台、冷热台或低温恒温器,实现变温功能的升级,无需购置全新设备。

解决安装空间、物镜工作距离、样品台适配、光路对准等机械与光学兼容问题(如定制适配器、下凹视窗设计、移动嵌座等)。

 

3.低温下的视窗除雾问题

PPT中明确提出了除雾方式,除了氮气,还有什么方式,表明产品需要解决低温下光学视窗结雾影响测量的难题(虽未给出答案,但这是产品设计要应对的关键问题)。


4.特殊样品与复杂测试条件的适配问题

粉末样品:设计了带石英盖板的可拆卸夹具、凸起防掉落结构、压针固定等,方便装样。

液体/生物样品:支持低温下观察食品、生物反应、石油荧光等。

动态过程观察:联用高速相机、微量注射器、变频风机等,记录液氮滴落、碰撞、结冰、固化、吹落等瞬态过程。

光电/电学测试:集成探针台、源表、激光器、光纤、CCD等,实现变温下光电晶体管、探测器、光芯片的光电流、光敏性、稳定性测试。

高能辐射环境:结合钴源(γ射线)和Keithley源表,实现80K低温下HBT器件的辐射损伤测试。


5.光路与成像质量保障问题

优化光学路径设计(如四窗结构、入射/反射/荧光分离),保证在低温下仍有良好的透光、成像和信号采集能力。

支持共聚焦显微镜、3D无激光共聚焦系统、偏光显微镜等高端成像,通过定制支架和电动Z载物台实现低温下三维堆栈成像。


6.系统集成与自动化控制问题

提供温度控制器、液氮自动填充系统、电动位移台、设备适配器(如为Thorlabs MFC1编写自定义驱动),实现与用户原有软件(如Micro-Manager)的联动控制。


二、典型应用场景总结

应用领域

解决的具体问题

具体案例

拉曼光谱

物镜距离4mm,下凹视窗,液氮循环接口,变温拉曼

椭偏仪

冷热台放到位移台上,测GaNnk、厚度

XRD

常温XRD升级变温功能,测晶体结构

显微镜(体视、荧光、偏光)

替代样品台,低温下微观结构观察

四、五、六、七

荧光/光致发光光谱

粉末装样、石英光窗、激子结合能测定

八、九、十

光电晶体管/探测器

联用激光、源表、探针台,变温测光电流

十一、十三

光通信芯片

变温腔体(-40℃~120℃)测温度稳定性

十二

结冰/防结冰实验

联用高速相机、微量注射器、变频风机

十五、十六

高能辐射测试

80K低温辐射,测I-V特性

十九

电光装置

变温测开关特性、自发极化、响应时间

十七、十八

 

三、间接解决的客户痛点

节约成本:无需购置全新高端变温光学设备,通过模块化冷热台改造原有系统。

拓展研究能力:使原本只能在室温下工作的光学设备具备宽温区测试能力,支撑材料相变、低温物性、热稳定性等前沿研究。

操作便捷性:可拆卸夹具、防掉落设计、自动液氮填充等,降低低温实验的操作难度。


总结

嘉仪通低温系列产品解决了在光学、光谱、显微及光电测试系统中,实现从低温到高温的精确控温、与现有设备无缝集成、保证光路质量和样品操作便利性的关键技术问题,从而让用户能够便捷地进行变温环境下的材料与器件光学特性表征。


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