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薄膜盛会圆满落幕！武汉嘉仪通硬核技术闪耀第十七届全国薄膜技术研讨会
- 分类： 品牌故事
- 作者：管理员
- 来源：本站
- 发布时间：2025-11-28
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【概要描述】日前，第十七届全国薄膜技术学术研讨会暨中国真空学会薄膜专业委员会成立四十周年庆典在深圳南山圆满落下帷···
薄膜盛会圆满落幕！武汉嘉仪通硬核技术闪耀第十七届全国薄膜技术研讨会
【概要描述】日前，第十七届全国薄膜技术学术研讨会暨中国真空学会薄膜专业委员会成立四十周年庆典在深圳南山圆满落下帷···
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日前，第十七届全国薄膜技术学术研讨会暨中国真空学会薄膜专业委员会成立四十周年庆典在深圳南山圆满落下帷幕。这场为期三天的学术盛会汇聚了全国薄膜技术领域的顶尖院士、专家学者及企业代表超过300人，共同探讨薄膜材料的前沿研究、制备工艺、应用拓展及产业化进程。
技术盛宴 嘉仪通硬核方案引关注
作为本次大会的承办单位之一，武汉嘉仪通科技有限公司携其创新成果精彩亮相，为薄膜材料在高低温等复杂环境下的热、电性能测试提供整体解决方案，成为会议期间备受瞩目的焦点。
在大会的技术展示区，武汉嘉仪通集中展示了其在薄膜材料物性测量领域的最新成果，包括电输运特性测试、热物性测试和极端环境模拟三大技术序列的创新产品，为与会代表提供了全面的薄膜材料表征解决方案。
创新产品 精准把脉薄膜特性
电输运特性测试方案深度解析薄膜“电性能”。霍尔效应测试系统HET依据范德堡法，精准测量薄膜的载流子浓度、迁移率等关键参数，兼容从传统硅基到第三代半导体的全面需求；薄膜热电参数测试系统MRS专为薄膜设计，采用四线法测电阻与动态法测Seebeck系数，确保热电薄膜材料的测量数据准确可靠。
热物性测试方案精准把脉薄膜“热管理”。薄膜热导率测试系统TCT采用3ω方法，直接、精确测量薄膜的热导率；热膨胀系数分析仪TEA采用光干涉专利技术，实现无损检测；相变温度分析仪PCA利用材料相变前后反射光功率的突变来判定相变点，具备无损、快速、高灵敏度的优势。
极端环境模拟方案打造可靠测试“舞台”。快速退火炉RTP实现（RT-1200℃）的急速升降温与均匀温场；低温恒温系列采用先进温控算法，为各种测试提供稳定精准的高低温与变温环境；探针台LNP为晶圆、芯片等微纳样品提供精准的电学性能测试环境。
展望未来 共绘薄膜技术新蓝图
本次大会系统梳理了薄膜技术发展脉络，集中展示了薄膜技术在基础研究、技术攻关、产业突破领域的最新成果。未来，薄膜技术将聚焦“技术深耕”与“产业拓展”两大核心方向，助力我国从“薄膜大国”向“薄膜强国”迈进。
武汉嘉仪通将继续秉承“精准数据赋能前沿科研与产业突破”的理念，深化核心技术研究，紧扣国家战略需求，为薄膜材料在半导体、新型显示、新能源等战略新兴产业的高质量发展提供强有力的测试技术支撑，为推动薄膜技术与AI、量子科技等深度融合贡献自己的力量。
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