新闻详情
2024年11月3日至6日,湖北省武汉市迎来了科技界的一大盛事——第26届中国电子学会青年年会暨第5届半导体青年学术会议。此次会议由中国电子学会主办,华中科技大学承办,旨在探讨“后摩尔时代集成电路的青年创新”,汇聚了来自全国各地的青年学者和行业精英,共同为推动中国乃至全球半导体技术的发展贡献力量。
主办方精心设置了主论坛、青年学者沙龙以及18场专题论坛,为与会者提供了丰富多彩的学术交流平台。
嘉仪通作为国产半导体材料测试设备领域研发制造企业,携其核心产品快速退火炉、霍尔效应测试仪、冷热台等亮相会场,成为了此次会议的一处亮点。许多学者和专家纷纷驻足参观,详细了解产品的性能和应用情况。嘉仪通的工作人员也积极与参会者交流互动,解答他们的问题,分享产品的最新技术进展和应用案例。
此次会议不仅为嘉仪通提供了一个展示产品和技术的重要平台,也为其与业界同仁的交流合作提供了宝贵机会。通过与会期间的深入交流和探讨,嘉仪通进一步了解了半导体行业的最新动态和发展趋势,为未来的产品研发和技术创新提供了有力支撑。
扫二维码用手机看
在线留言
WRITE A MESSAGE TO US
热门资讯
- 微纳尺度下的精密电学测试:探针台与半导体参数仪在MEMS器件表征中的应用 2025-08-06 16:35:00
- 冷热台在变温光致发光光谱(PL谱)研究中的应用 2025-07-31 15:44:49
- 碳化硅材料+霍尔效应测试的组合,正推动SiC器件迈向高效可靠的未来 2025-07-23 14:47:41
- 晶圆快速热退火(RTA)工艺总结分享 2025-07-17 14:08:31
- 霍尔效应测试对不同掺杂Ga₂O₃氧化镓材料电特性精准测试应用 2025-07-10 14:35:25
- 霍尔效应测试仪在GaN材料研究中激光器开发和生物传感器优化案例分享 2025-07-04 15:14:56

我们的产品
公司多年来秉持互惠共赢的原则与全国各地客户开展贸易合作往来