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纳米级薄膜材料物性分析仪入驻中国计量院

  • 分类: 客户动态
  • 作者:嘉仪通科技
  • 来源:本站
  • 发布时间:2021-07-09
  • 访问量: 566

【概要描述】中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)成立于1955年,属社会公益型科研单位。武汉嘉仪通科技的···

纳米级薄膜材料物性分析仪入驻中国计量院

【概要描述】中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)成立于1955年,属社会公益型科研单位。武汉嘉仪通科技的···

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中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)成立于1955年,属社会公益型科研单位。

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武汉嘉仪通科技的光功率热分析仪是纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的市场!不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性检测材料的相变温度,依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数,融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。

 

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