PCA采用具有专利技术（专利号：ZL201810767563.1）的光学系统检测原理，配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件。PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。不仅能创新性解决二维薄膜材料的热学性能分析，同时还能使用与三维块体材料的热性能分析，是一款具有多功能的科技创新产品。
PCA是无损检测，不破坏样品，节约成本。